911chaxun查询科学技术名词材料的表征与测试
断口分析
规范用词断口分析
英文对照fractography analysis
名词定义分析断口宏观和微观特征形貌的技术与方法。是失效分析的主要技术手段之一。
所属学科材料科学技术 > 材料科学技术基础 > 材料科学基础 > 材料的表征与测试
名词审定材料科学技术名词审定委员会
见载刊物《材料科学技术名词》 科学出版社
公布时间2011年
科学技术名词为您提供断口分析,fractography analysis,断口分析的意思,fractography analysis的意思,断口分析的英文,fractography analysis的翻译,断口分析的翻译,断口分析是什么意思,断口分析什么意思,fractography analysis是什么意思,fractography analysis什么意思
断口分析 相关科技名词
- 相分析phase analysis
- 穆斯堡尔谱法Mssbauer spectroscopy
- 射线照相术γ-ray radiography
- X射线检测X-ray testing;X-ray analysis
- X射线照相术X-ray radiography
- 单晶X射线衍射术single crystal X-ray diffraction
- X射线粉末衍射术X-ray powder diffraction
- X射线吸收谱法X-ray absorption spectroscopy
- X射线荧光谱法X-ray fluorescence spectroscopy
- X射线形貌术X-ray topography
- X射线漫散射X-ray diffuse scattering
- 质子X射线荧光分析proton-induced X-ray emission;PIXE
- X射线光电子能谱法X-ray photoelectron spectroscopy;XPS
- X射线吸收近边结构X-ray absorption near edge structure;XANES
- 扩展X射线吸收精细结构extended X-ray absorption fine structure;EXAFS
- 能量色散X射线谱X-ray energy dispersive spectrum;EDS
- 波长色散X射线谱法wavelength dispersion X-ray spectroscopy;WDS
- 红外光谱法infrared spectroscopy
- 拉曼光谱法Raman spectroscopy
- 极谱法polarography
- 电子衍射electron diffraction
- 中子衍射neutron diffraction
- 低能电子衍射low-energy electron diffraction;LEED
- 电子背散射衍射electron backscattering diffraction;EBSD
- 电子显微术electron microscopy
- 扫描电子显微术scanning electron microscopy;SEM
- 透射电子显微术transmission electron microscopy;TEM
- 扫描探针显微术scanning probe microscopy;SPM
- 扫描隧道显微术scanning tunnelling microscopy;STM
- 场[发射]电子显微术field [emission] electron microscopy;F[E]EM
- 分析电子显微术analytical electron microscopy;AEM
- 场离子显微术field ion microscopy;FIM
- 高分辨电子显微术high resolution electron microscopy;HREM
- 高压电子显微术high-voltage electron microscopy;HVEM
- 电子能量损失谱electron energy loss spectrum;EELS
- 俄歇电子能谱法Auger electron spectrometry;AES
- 电子微探针分析electron microprobe analysis
- 电子隧道谱法electron tunnel effect spectroscopy
- 原子发射光谱atomic emission spectrum;AES
- 正电子湮没术positron annihilation spectroscopy;PAS
别人正在查